Hasil Pencarian  ::  Simpan CSV :: Kembali

Hasil Pencarian

Ditemukan 1 dokumen yang sesuai dengan query
cover
Benny Joseph Gowasa
" Teknologi analisa difraksi sinar-X (XRD) memiliki keterbatasan dalam pendeteksian dan keakuratan data yang dihasilkan oleh peralatan XRD. Hal ini disebabkan perbedaan setiap parameter pengukuran peralatan XRD yang digunakan. Untuk mendapatkan hasil yang akurat dalam pendeteksian peralatan XRD terlebih dahulu harus mengetahui sifat kristalin dan amorf material kemudian menentukan parameter pengukuran teknik pemindaian dan waktu jejak. Penelitian ini bertujuan mengetahui karateristik alat XRD yang digunakan di laboratorium Teknik Metalurgi dan Material Universitas Indonesia, melalui variasi ... "
Depok: Fakultas Teknik Universitas Indonesia, 2016
S62620
UI - Skripsi Membership  Universitas Indonesia Library