Hasil Pencarian  ::  Simpan CSV :: Kembali

"Telah didapatkan kesesuaian hasil perhitungan teoritis energi ikat total atom (-β) antara metode Thomas-Fermi terkoreksi dan metode Hartree-Fock untuk atom-atom netral dari Z = 2 sampai Z= 102. Kesesuaian paling nyata ditemukan pada atom-atom kompleks yang memiliki nomor atom Z besar dengan perbedaan sekitar 0,1 %, sementara untuk atom dengan Z kecil perbedaannya sekitar 5 %. Dibandingkan dengan data eksperimen, kedua metode pendekatan tersebut memberikan kesesuaian yang besar untuk atom yang mempunyai nomor atom Z besar dengan perbedaan sekitar 1,4 % untuk metode Thomas-Fermi terkoreksi dan perbedaan sekitar 1,5 % untuk metode Hartree-Fock, dan hasil perhitungan metode Hartree-Fock lebih mendekati nilai eksperimen dengan perbedaan 1,3 % sementara metode Thomas-Fermi terkoreksi memberikan perbedaan 6,3 %, untuk nomor atom Z= 2."

"Kuantisasi Lagrangian model point-coupling bergantung densitas menghasilkan Lagrangian Hartree-Fock yang terdiri atas suku direct dan exchange. Identitas Fierz diaplikasikan pada suku exchange agar bisa disusun bersama dengan suku direct membentuk Lagrangian efektif. Dengan menggunakan persamaan Euler-Lagrange akan didapat persamaan gerak dan massa efektif sistem. Dari Hamiltonian sistem diperoleh energi ikat sistem per nukleon, massa efektif, tekanan dan kompresibilitas. Dari hasil yang diperoleh, kontribusi suku exchange kecil pada massa efektif nukleon materi nuklir simetrik. Namun pada keadaan lain, kontribusi yang signifikan terlihat pada energi ikat per nukleon di materi nuklir simetrik dan materi netron, massa efektif materi netron, dan energi ikat per nukleon pada densitas rendah dari materi netron.

---

Point-coupling model Lagrangian is quantized to obtain the Hartree-Fock Lagrangian which contained direct and exchange terms. Fierz identity applied to the exchange term to be rearranged together with the direct term to obtain the effective Lagrangian. By using the Euler-Lagrange equation, we will obtain the equation of motion and the effective mass of the system. From the Hamiltonian will obtain the binding energy per nucleon, effective mass, pressure and compressibility. The results show that the exchange term contribution is small on nucleon effective mass of symmetric nuclear matter. But in the other conditions, the significant contribution are observed on binding energy per nucleon of asymmetric nuclear matter, neutron effective mass, and binding energy per nucleon in asymmetric nuclear matter in low density."

"Dalam penelitian ini telah berhasil dilakukan pembuatan thin film Zn excimer pada substrat Safir (α-Al2O3) dengan teknik rekombinasi ion pada sistem electron assisted PVD. Modifikasi level elektronik pada Zn dengan eksitasi memungkinkan untuk mendapatkan struktur kristal yang berbeda dan akan merubah sifat material. Salah satu variabel utama dalam kontrol pembentukan Zn excimer dengan metode rekombinasi ion adalah kontrol energi insiden elektron. Kontrol energi tersebut berkaitan dengan fenomena densitas elektron yang ditembakkan ke substrat. Distribusi densitas muatan elektron tersebut tergantung pada posisi substrat sehingga akan berpengaruh pada pembentukan lapisan film Zn excimer. Sampel lapisan film tersebut dikarakterisasi dengan pengujian seperti X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) pada lokasi sampel yang berbeda. Karakterisasi dengan XPS akan membantu untuk memahami pengaruh densitas muatan elektron terhadap lapisan film Zn excimer.

---

In this study have been successfully performed the manufacture of thin film Zn * on a substrate Sapphire (α-Al2O3) by ion recombination techniques in electronassisted PVD system. Modifications electronic level in Zn with excitation makes it possible to get different crystal structure and properties. The main variable for control formation of Zn excimer is the energy incident electron. These related to the phenomenon of electron density that irradiated into the substrate. Electron charge density distribution depends on the position of the substrate that will affect the formation of thin film Zn excimer. The samples were characterized by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) at different sample locations. Characterization by XPS will help to understand the influence of the electron charge density of the thin film Zn excimer."