Hasil Pencarian  ::  Simpan CSV :: Kembali

Abstrak :
Struktur kristal merupakan salah satu bagian dari analisis struktur mikro, untuk menganalisis hal ini yang sering dipakai metode Hanawalt dari kurva XRD. Struktur mikro suatu bahan yang tergantung pada ukuran butir. Bahan CaMnO3 yang merupakan campuran dari bahan dasar CaCO3 dan MnO2 terbentuk setelah melalui proses milling dan pemanasan. Proses milling yang dilakukan pada sampel dengan variasi waktu 3 jam, 6 jam, 9 jam, 12 jam melalui pemanasan dengan variasi 3 jam, 6 jam, dan 9 jam. Temperatur yang digunakan pada proses ini 400°C , 800°C dan 1000°C. Hasil pengukuran difraksi sinar-X pada temperatur ruang menunjukan bahwa CaMnO3 dapat dihasilkan melalui pemanasan sampai 10000C. Sementara itu sampel dengan waktu milling 12 jam mulai mengarah ke pembentukan fasa baru CaMnO3 yang baik. Untuk mengindentifikasi bahan secara mikro dan perubahan ukuran butir digunakan Partikel Size Analyzer (PSA). ......Structure Crystal represent one part of the micro structure analysis, to analyse this matter which is often weared by Hanawalt method from XRD curve. Micro Structure a materials which depend on item size measure. Materials CaMnO3 representing mixture from elementary materials of MnO2 and CaCO3 formed by after passing milling process and warm-up. Process conducted by milling sampel with time variation of 3 hour, 6 hour, 9 hour, 12 hour through warm-up with variation of 3 hour, 6 hour, and 9 hour. Used temperature at this process 400°C, 800°C and 1000°C. Result of measurement X-ray diffraction at showed room temperature that CaMnO3 can be yielded to through warm-up until 1000°C. Meanwhile sampel with milling time 12 hour start flange to forming of new fasa good CaMnO3. For the identifying of materials microly and change of item size measure used by Particle Size Analyzer ( PSA).

Abstrak :
Telah dibuat lapisan tipis In2O3: Sn (ITO) dengan metode DC Magnetron Sputtering diatas substrat soda-lime yang mudah diperoleh dan murah. Hasil pengujian menunjukkan bahwa nilai resistivitas tidak homogen pada suatu permukaan lapisan tipis. Resisitivitas minimum diperoleh bernilai 1.6 x 10-4 Ω cm. Resistivitas minimum ini umumnya diperoleh pada titik pengukuran yang berjarak 40 mm sumbu x negatif, 27 mm sumbu y negatif dari titik pada sampel yang berada tepat di atas titik pusat target. Struktur mikro menunjukkan preferred orientation pada (400). Ukuran batas butir lebih mempengaruhi resistivitas. Umumnya grain yang besar akan memiliki nilai resistivitas yang kecil. ......In2O3 :Sn (ITO) thin film has been using DC Magnetron Sputtering method on soda-lime substrate which is easy to get and the price is cheap. The result show the inhomogeniety of resistivity value on the surface of thin fim. The minimum resistivity is 1.6 x 10 -4Ω cm. This value is generally obtained at the point of which is 40 mm to the left, 27 mm down of a point at the sample which is exactly on top of the target center point. The microstructure shows preferred orientation at (400), but resistivity is not depend on this. This value is determined more of the size of grain boundary. Generally, a bigger grain will result in a smaller value of resistivity. It is hypothesized that the conductivity process is caused by donors which are localized at grain boundaries. This hypothesis explained which shows the amount of grain is increase, resistivity will decrease.