Hasil Pencarian  ::  Simpan CSV :: Kembali

Abstrak :
Abstract Spectral decomposition is an established technique for stratigraphic analysis from seismic reflection data. Interpretation is usually purely qualitative, but in some circumstances the technique can also provide quantitative information about bed thickness, especially near or below seismic resolution. This thesis describes a novel extension of the spectral decomposition technique that improves the accuracy of bed thickness estimation. Thin beds produce periodic notches in the spectrum of the seismic trace. The spacing of these notches, which is inversely proportional to bed thickness, can be accurately measured by calculating the Fourier transform of the spectrum. This so-called cepstrum has local maxima corresponding to the thickness of the thin bed or beds. Since the technique does not rely on picking a single frequency, but instead detects tuning effects from the entire spectrum, it copes better with noise and is also able to resolve overlapping and interfering thin-bed effects. In this thesis, I present examples from two-dimensional synthetic seismic traces, three-dimensional synthetic seismic models and three-dimensional synthetic real data. The result show that in two-dimensional synthetic seismic traces that using this technique can separate reflector better than classic data processing. in three-dimensional seismic traces this technique also work well to show channel possibility and predict their thickness. Cepstral peaks are also a better predictor of thickness than the time difference between the top and base interpreted from the seismic trace. Key Word: Spectral decomposition; bed thickness; cepstrum; spectrum (xii+62) hlm; gbr; lamp; Daftar Acuan : 20 (1963-2006)

Abstrak :
Abstrak Lapisan Tipis Ba0,5Sr0,5TiO3 IM dengan variasi suhu pemanasan proses pembuatan telah dihasilkan. Menggunakan teknik CSD (chemical solution deposition ) pada spin coating yang diputer 3000 rpm selama 30 detik. sampel yang ada diberikan perlakuan panas beberapa tahap (pengeringan-pirolisis-annealing). Struktur dari lapisan tipis BST dianalisis dengan menggunakan XRD ...

Abstrak :
Abstrak Mikrostruktur lapisan tipis amorf silikon karbon terhidrogenasi (a-Sich) telah dianalisis dengan menggunkan pendekatan medium efektif (PME) Bruggemann. Lapisan tipis dihasilakan dengan metode deposisi dc magnetron sputtering menggunakan dua jenis target : silikon dan grafit. Mikrosstruktur lapisan tipis ini dimodelkan terdiri atas tiga komponen: amorf tetrahedral (a-SicCH), amorf grafitik (a-C), dan microvoid. Untuk memperoleh respon optis komponen amor ...

Abstrak :
Telah dibuat rancang bangun alat uji untuk mengetahui konstanta dielektrik sampel dengan metode arus konstan yang tampilannya menggunakan piranti lunak LabVIEW (National Instruments, Texas). Pengontrolan dilakukan oleh PC dengan memberikan output dari 0 volt sampai 5 volt. Sample yang digunakan pada pengujian ini adalah kaca corning yang dilapisi bahan dielektrik PZT (Lead Zirkonat Titanat) yang telah didoping. Lapisan tipis PZT yang telah didoping terdiri dari PGZT, PIZT, PNZT, dan PVZT. Lapisan tipis ini ditempatkan pada elektroda yang diberi tegangan listrik sebesar 1000 VDC. Pada penelitian ini didapat tegangan output dari masing-masing lapisan tipis tersebut. Konstanta dielektrik didapat dengan menggunakan RLC meter, berikut adalah konstanta dielektrik dari masing-masing bahan lapisan tipis : PGZT 8% = 20.062, PIZT 8% = 20.178, PNZT 8% = 22.211, PVZT 8% = 22.923, corning = 2.061.