Hasil Pencarian  ::  Simpan CSV :: Kembali

Hasil Pencarian

Ditemukan 99329 dokumen yang sesuai dengan query
cover
Afif Ariqulfikri
"EDXRF memungkinkan analisis cepat dan tidak merusak baik untuk analisis kuantitatif maupun analisis kualitatif. Analisis XRF kuantitatif dilakukan dengan menggunakan prosedur komparatif, dimana sampel yang tidak diketahui untuk dianalisis dibandingkan dengan sampel yang bertindak sebagai referensi standar. Sebelum melakukan pengukuran, prosedur kalibrasi harus dilakukan. Persiapan spesimen standar untuk kalibrasi harus dilakukan dengan sangat hati-hati dan dengan cara yang sama seperti sampel yang tidak diketahui yang akan diuji. Untuk mendapatkan proses kalibrasi yang tepat, seseorang perlu memahami prinsip-prinsip tentang sinar-X, pengetahuan dasar tentang pengaturan khusus instrumen, dan beberapa teori tentang metode pengujian. Sifat fisik sampel dan beberapa pengaturan khusus instrumen, seperti sumber sinar-X, voltase daya tabung yang diterapkan, atau waktu pengukuran, dapat memengaruhi jumlah elemen yang diukur dengan pemindaian XRF. Proses kalibrasi akan membentuk kurva kalibrasi yang akan digunakan alat untuk menghitung analisis unsur. Jika terjadi kesalahan selama proses kalibrasi, kesalahan tersebut dapat memengaruhi pengukuran sampel yang tidak diketahui nantinya. Tesis ini dilakukan untuk meningkatkan akurasi mesin EDXRF yang tersedia di lab ST dengan memodifikasi kondisi pengujian dan mengubah energi mesin, untuk menghasilkan kondisi pengukuran terbaik meskipun dengan keterbatasan mesin. Dengan demikian, tugas akhir ini bertujuan untuk mendapatkan kondisi yang dapat menghasilkan pengukuran yang paling akurat pada baja.

EDXRF enables quick and non destructive analysis for both quantitative analysis or qualitative analysis. Quantitative XRF analysis is accomplished using a comparative procedure, where the unknown samples to be analyzed are compared with samples that act as standard references. Before conducting the measurement, a calibration procedure must be performed. The preparation of the standard specimens for calibration must be carried out with great care and in the same manner as the unknown sample that will be tested. In order to obtain a proper calibration process, one needs to understand the principles regarding X-rays, basic knowledge regarding the instrument-specific settings, and several theories regarding the methods of testing. Physical properties of the sample and several instrument-specific settings, such as the X-ray source, applied voltage of the tube power, or measurement time, can affect the element counts measured by scanning XRF. The calibration process will form a calibration curve, which the instrument will use to calculate the elemental analysis. If errors occur during the calibration process, they can affect the measurement of the unknown sample later. This thesis is conducted to improve the accuracy of an EDXRF machine that is available at the ST lab by modifying the test conditions and altering the machine energy, to generate the best measurement condition despite the limitations of the machine. By doing so, this bachelor's thesis aims to obtain conditions that could produce the most accurate measurements on steel."
Depok: 2023
S-pdf
UI - Skripsi Membership  Universitas Indonesia Library
cover
Syadzaa Aaqilah
"EDXRF adalah metode yang dikenal luas untuk analisis non-destruktif baik untuk analisis kuantitatif maupun kualitatif. Untuk analisis kuantitatif, sampel yang tidak diketahui dibandingkan dengan referensi standar sebagai prediksi untuk mendapatkan jumlah setiap elemen di dalamnya. Untuk mendapatkan hasil yang tepat dan akurat, diperlukan standarisasi yang baik. Kurva kalibrasi yang juga dikenal sebagai referensi standar digunakan untuk membuat analisis yang lebih akurat, oleh karena itu penyesuaian yang dilakukan pada standar ini harus dilakukan untuk menyempurnakan hasil analisis agar lebih akurat. Pemahaman dasar mengenai sifat fisik sampel, pengaturan instrumen EDXRF secara spesifik, dan penyesuaian energi tumpang tindih (overlapping) yang dapat dideteksi juga akan membantu meningkatkan analisis. Tesis ini dilakukan untuk meningkatkan akurasi mesin EDXRF khusus untuk Material Oksida dengan menyesuaikan kurva kalibrasi, menghilangkan tumpang tindih, dan membandingkan efek bahan aditif selama proses persiapan sampel. Selain itu, hal ini bertujuan untuk mendapatkan kalibrasi standar yang dapat digunakan untuk pengujian selanjutnya.

EDXRF is a widely known method for non-destructive analysis for both quantitative and qualitative analysis. For quantitative analysis, an unknown sample is compared to a standard reference as a prediction to get the amount of each element inside. To obtain a proper and accurate result a good standardization is needed. The calibration curve also known as the standard reference is used to create a more accurate analysis, hence the adjustment made to this standard must be made to perfect the analysis result to be more accurate. A basic understanding of the physical properties of the samples, the specific instrument setting of the EDXRF, and the adjustment of overlapping energy that can be detected will also help to improve the analysis. This thesis is conducted to improve the accuracy of the EDXRF machine specifically for Oxidic Materials by adjusting the calibration curves, removing overlap, and comparing the effect of additive material during the sample preparation process. Moreover, it aims to obtain a standard calibration that can be used for subsequent testing."
Depok: Fakultas Teknik Universitas Indonesia, 2024
S-pdf
UI - Skripsi Membership  Universitas Indonesia Library
cover
cover
cover
Fakultas Teknik Universitas Indonesia, 2000
T40678
UI - Tesis Membership  Universitas Indonesia Library
cover
cover
Sembiring, Simon
"Pada penelitian ini, mullite yang disintesis dari aluminum nitrat hidrat [(Al(NO3)3.9H2O] dan sol silika sekam padi dikenakan pada perlakuan sintering dengan suhu 900, 1000, 1100, 1200, dan 1300°C, kemudian dikarakterisasi dengan difraksi sinar-x (XRD) dilanjutkan dengan penghalusan menggunakan metode Rietveld, dan analisis termal diferensial (DTA). Hasil penelitian menunjukkan bahwa dalam sampel yang disintering pada suhu 900°C, tidak ditemukan fasa mullite, tetapi fasa kristobalit dan alumina terdeteksi dengan jelas. Pembentukan mullite baru terjadi pada suhu 1000°C dan bertumbuh dengan peningkatan suhu ditandai dengan kenaikan persen berat (wt%) dari 62,62 menjadi 92,29%, disertai penurunan persen berat kristobalit dari 22,42 menjadi 1,25% dan penurunan persen berat alumina dari 77,58 menjadi 6,46%. Hasil penghalusan menunjukkan korelasi yang baik antara unit sel hasil perhitungan dan hasil pengamatan, dengan dimensi unit sel adalah a = 7,545 nm, b = 7,689 nm dan c = 2,884 nm untuk mullite, a = b = 0,5531 nm, dan c = 0,6923 nm untuk kristobalit, dan a = b = 0,5026 nm, dan c = 1,2808 nm untuk alumina. Hasil analisis dengan DTA menunjukkan bahwa dalam sampel yang tidak disintering, hanya terdapat alumina dan silika, sementara dalam sampel yang disintering terdapat mullite, alumina, dan kristobalit.

In this study, mullite synthesized from aluminum nitrate hydrate [(Al(NO3)3.9H2O] and silica sol from rice husk was subjected to sintering treatment at temperatures of 900, 1000, 1100, 1200, and 1300°C, and characterized using x-ray diffraction (XRD), followed by Rietveld refinement, and differential thermal analysis (DTA). The results indicated that in the sample sintered at 900°C, no mullite phase was identified, but crystoballite and alumina were well detected. The formation of mullite started at temperature of 1000°C and continued to grow at higher temperatures, resulted in increased weight percentage (wt%) from 62.62 to 92.29%, while crystoballite and alumina decreased from 22.42 to 1.25% and from 77.58 to 6.46 % respectively. A good correlation was found between the calculated and observed unit cells. For mullite phase, the unit cell dimensions are a = 7.545 nm, b =.689 nm and c = 2.884 nm, for crystoballite a =b = 0.5531 nm and c = 0.6923 nm, and for alumina a = b = 0.5026 nm, and c = 1.2808 nm. The DTA analyses revealed that in the untreated sample, only alumina and silica were detected, while in the sintered samples we found the existence of mullite, alumina, and crystoballite."
Depok: Direktorat Riset dan Pengabdian Masyarakat UI;Universitas Lampung. Fakultas Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam, 2012
J-pdf
Artikel Jurnal  Universitas Indonesia Library
cover
Glusker, Jenny Pickworth
New York: Oxford University Press, 1985
548 GLU c
Buku Teks  Universitas Indonesia Library
cover
Arifal Dianes Febri
"Pb doped ZnO disintesis dengan metode kopresipitasi menggunakan prekursor ZnSO4.7H2O dan PbCl2 dengan variasi konsentrasi dopant Pb (0.5%, 3%, 3.5% dan 5%) pada kondisi pH 13 serta temperatur pengeringan 100 0C selama empat jam. Sampel dikarakterisasi dengan X-Ray Diffraction (XRD) dan Energy Dispersive X-Ray (EDX) untuk melihat morfologi serta komposisi Pb doped ZnO. Hasil karakterisasi XRD menunjukkan terbentuknya fase utama wurtzite ZnO serta ditemukan fase sekunder PbO. Analisa lebih lanjut menunjukkan perubahan parameter kisi wurtzite ZnO (a=3.252, c=5.216) serta penurunan ukuran kristal (18 hingga 12 nm) dengan penambahan dopant Pb. Sifat optik Pb doped ZnO dikarakterisasi menggunakan UV-Vis Spectroscopy dan diperoleh penurunan energi celah pita ZnO (3.379 hingga 3.310 eV). Penurunan energi celah pita ZnO mengindikasikan terbentuknya pita tambahan di bawah pita konduksi ketika terjadi substitusi Pb ke dalam matriks ZnO. Kemampuan fotokatalis Pb doped ZnO dikarakterisasi dengan metode Photocatalytic Activity (PCA) menggunakan sinar UV pada rentang 200–800 nm selama 1 jam dan didapatkan efisiensi fotokatalis terbaik pada sampel Pb doped ZnO dengan kadar dopant 3.5%.

Pb doped ZnO were synthesized by coprecipitation with ZnSO4.7H2O and PbCl2 (0.5%, 3%, 3.5% and 5%) at pH 13 and 100 0C for four hours. Morphology and composition of Pb doped ZnO were characterized by X-Ray Diffraction (XRD) and Energy dispersive X-ray (EDX). XRD spectrum indicated the formation of wurtzite ZnO and PbO. Further analysis showed that lattice parameter of ZnO has changed (a = 3.252, c = 5.216) and crystallite size has decreased (18 to 12 nm) with the addition of Pb. The optical properties of Pb doped ZnO were characterized using UV-Vis spectroscopy and showed that bandgap energy was decreased (3.379 to 3.310 eV). This indicated the formation of additional bandgap below the conduction band when the substitution of Pb into the ZnO matrix. Photocatalytic Activity (PCA) of Pb doped ZnO photocatalysts were characterized using UV in 200-800 nm for 1 hour and Pb Doped ZnO 3.5% has the best photocatalytic activity.
"
Depok: Fakultas Teknik Universitas Indonesia, 2012
S-pdf
UI - Skripsi Membership  Universitas Indonesia Library
cover
Galih Prabowo
"Telah dibuat kVp meter Sinar-X radiodiagnostik dalam penelitian yang terdiri dari rangkaian sensor Photodiode Transimpedance OPT 101, rangkaian Operational Amplifier, rangkaian Analog to Digital Converter (ADC) dan mikrokontroller ATMEL 89S52. Pengukuran tegangan tabung pesawat sinar-X dengan kVp meter berdasarkan konsep perbedaan atenuasi berkas radiasi oleh dua absorber berbeda dan dideteksi oleh sepasang Photodiode yang identik. Rasio dari sinyal output photodioda merupakan fungsi kVp yang kemudian dikalibrasi dengan kVp meter yang telah terkalibrasi RMI. Penyinaran dilakukan pada rentang tegangan 60 kVp sampai dengan 90 kVp dan dengan filter 1 mm, 2 mm, 3 mm, dan 4 mm. Hasil dari penelitian ini adalah hubungan linear antara bacaan kVp meter dengan bacaan panel pesawat namun masih belum konsisten dan membutuhkan penelitian lebih lanjut. Pasangan filter 1 dan 4 mm memperlihatkan hasil yang paling baik dan konsisten.

Voltage peak measurement device has been made that consists circuit of photodiodes transimpedance sensor OPT 101, Operational Amplifier, Analog to Digital Converter (ADC), and ATMEL 89S52 microntroller. Kilovoltage peak is maximum voltage that is applied across an X-ray tube that yields maximum X-ray energy. The measurement makes use of different attenuation of X-ray beam by two different absorbers and were detected by two identical photodiodes. The ratio of the signals from the two diodes is a function of peak kilovoltage. Results were calibrated by comparing with a calibrated commercial kVp meter. Series of exposures are made using peak voltage ranging from 60 kVp to 90 kVp for four different thicknesses of Alumunium pair filter. The result show a linear relationship between output kVp metre and panel X-ray machine but otherwise were not sufficiently stable and consistent. Pair of 1 and 4 mm Al filter was found to produce best and consistent results."
Depok: Fakultas Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam Universitas Indonesia, 2006
S28886
UI - Skripsi Membership  Universitas Indonesia Library
<<   1 2 3 4 5 6 7 8 9 10   >>