Hasil Pencarian  ::  Simpan CSV :: Kembali

"Telah dibuat program komputer dalam lingkungan Delphi untuk analisis kualitatif material menggunakan metode Hanawalt. Data difraksi sinar-x dipcroleh dari XRD Phillips yang ada di program studi Ilmu Material Universitas Indonesia. Hasil analisis program dibandingkan dengan database yang ada pada PDF (Powder Diffraction File) dari ICDD (International Centre for Diffraction Data) . Untuk jarak kisi ternyata memiliki kesesuaian yang baik. Kesemua data kemudian diproses lebih lanjut dengan GSAS (General Structure Analysis System). DiperoIeh konsistcnsi antara program Delphi yang dibuat dengan analisis dengan GSAS.

---

A Computer Program in Delphi environment has been completed to qualitative analyze using Hanawalt Method. The x-ray diffraction data were obtained by XRD Phillips machine in the Material Science program University of Indonesia. The Delphi result were compared by the database in the PDF (Powder Diffraction File) of ICDD (International Centre for Diffraction Data) , good agreement was found for the d space. All the data were subject to be analyzed further by the GSAS (General Structure Analysis System)."

"Telah dibuat keramik timbal zirkonium titanat (PZT) doping aluminium dengan variasi persentasi berat 2% dan 8%. Sampel ditekan 2 ton dan dipanaskan pada suhu 800°C selama 8 jam dan ditahan selama 10 jam dan menjadi bulk, setelah itu membuat larutan lapisan tipis dengan mencampur methoxy ethanol di atas substrat Si(100) dan substrat Pt(200)/Si(100), kemudian diletakan pada spin coating dengan kecepatan putar 3000 rpm selama 30 detik dan dipanaskan pada suhu 900°C selama 8 jam dan ditahan selama 3 jam. Dengan metoda ini diharapkan terbentuk lapisan tipis senyawa PZT doping aluminium di atas substrat Si(100) dan substrat Pt(200)/SiI(100). Seluruh sampel dianalisa dengan difraksi sinar-X (XRD) untuk mengetahui parameter kisi, kemudian mengukur konduktifitas dengan I-V meter.

---

Lead zirconium titanate (PZT) ceramic have been made a doped by alluminum with the weight percentage varied from 2% and 8%. The sample was pressed at 2 ton and heated at 800°C during 8 hours with holding time in 10 hours and becoming bulk. The processed to make a thin film by mixing with methoxy ethanol then deposited to Si(100) and Pt(200)/Si(100) substrates, and then placed in spin coating apparatus with 3000 rpm during 30s and heated at 900°C during 8 hours with holding time 3 hours. by this method would be expected that we obtain new compounds of PZT doped by those atoms. All the samples were then analized by XRD to recognize a lattice parameter. We further discuss a characteristic of conductivity measurement with I-V meter analyzed."