Ditemukan 114679 dokumen yang sesuai dengan query
Universitas Indonesia, 1996
S28311
UI - Skripsi Membership Universitas Indonesia Library
Universitas Indonesia, 2004
TA403
UI - Tugas Akhir Universitas Indonesia Library
Universitas Indonesia, 2002
S28548
UI - Skripsi Membership Universitas Indonesia Library
Universitas Indonesia, 2004
TA276
UI - Tugas Akhir Universitas Indonesia Library
Napitupulu, Barmen Daniel
Depok: Universitas Indonesia, 1995
S28322
UI - Skripsi Membership Universitas Indonesia Library
Arys Nursetyawan
Depok: Fakultas Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam Universitas Indonesia, 2005
TA486
UI - Tugas Akhir Universitas Indonesia Library
Universitas Indonesia, 1994
S28180
UI - Skripsi Membership Universitas Indonesia Library
Artikel Jurnal Universitas Indonesia Library
Universitas Indonesia, 1997
S28260
UI - Skripsi Membership Universitas Indonesia Library
Dwiyanti Khairunnisa
"Lapisan tipis Cu2ZnSnS4 (CZTS) telah dipelajari secara mendalam dalam beberapa tahun terakhir karena kelebihannya. Dalam penelitian ini, prekursor CZTS dideposisikan pada substrat stainless steel dengan metode Successive Ionic Layer Adsorption and Reaction (SILAR) dan kemudian disulfurisasi pada temperatur 250-400⁰ C selama 30-60 menit untuk menghasilkan lapisan tipis CZTS yang polikristalin. Temperatur dan waktu sulfurisasi dipelajari pengaruhnya terhadap sifat optis.
Penelitian ini menunjukkan peningkatan nilai energi celah pita seiring peningkatan waktu sulfurisasi dari 30 menit ke 60 menit dan nilai energi celah pita lapisan tipis bervariasi dari 0,75 sampai 1,55 eV bergantung pada suhu dan waktu sulfurisasi.
Cu2ZnSnS4 (CZTS) thin films have been extensively studied in recent years for their advantages. In this work, CZTS precursors were prepared on stainless steel substrates by Successive Ionic Layer Adsorption and Reaction (SILAR) method and then sulfurized at temperatures of 250-400⁰C for 30-60 minutes to produce polycrystalline CZTS thin films. The effect of sulfurization temperature and time were studied on the optical properties. This study shows an increase of the band gap energy for increasing sulphurization time from 30min to 60min and the band gap of thin films varies from 0,75 to 1,55 eV depending on sulfurization temperature and time."
Depok: Fakultas Teknik Universitas Indonesia, 2014
S53866
UI - Skripsi Membership Universitas Indonesia Library