Photometric determination of traces of metals general aspects
E.B. Sandell, Hiroshi Onishi (John Wiley and Sons, 1978)
|
| Jenis Koleksi : | Buku Teks SO |
| No. Panggil : | 546.3 SAN p |
| Entri utama-Nama orang : | |
| Entri tambahan-Nama orang : | |
| Subjek : | |
| Penerbitan : | New York: John Wiley and Sons, 1978 |
| Sumber Pengatalogan : | |
| ISBN : | 0471030945 |
| Tipe Konten : | |
| Tipe Media : | |
| Tipe Carrier : | |
| Edisi : | Fourth edition |
| Deskripsi Fisik : | ix, 1085 p. : ill. ; 24 cm. |
| Catatan Bibliografi : | Bibliographies in each chapter |
| Catatan Seri : | Chemical analysis ; v.3 |
| Catatan Umum : | |
| Catatan Versi Asli : | |
| Lembaga Pemilik : | Universitas Indonesia |
| Lokasi : | Perpustakaan UI, Lantai 2 |
| No. Panggil | No. Barkod | Ketersediaan |
|---|---|---|
| 546.3 SAN p | 01-10-03005181 | TERSEDIA |
| 546.3 SAN p | 01-10-03005182 | TERSEDIA |
| Ulasan: |
| Tidak ada ulasan pada koleksi ini: 140354 |
